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薄膜測厚儀THI
薄膜測厚儀THI
| 加工定制：是 | 型號：THI | 類型：薄膜 | ||||
| 測量范圍：0-2 mm | 電源電壓：- V | 外形尺寸：- mm |
產(chǎn)品簡介：加工定制:是 ;型號:THI ;類型:薄膜 ;測量范圍:0-2 mm;電源電壓:- V;外形尺寸:- mm
濟(jì)南思克測試技術(shù)有限公司
詳細(xì)介紹：
友情提示：店鋪價格僅供參考，不作為實(shí)際交易價格！
薄膜測厚儀
薄膜測厚儀應(yīng)用范圍
適用于塑料薄膜、薄片、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。
薄膜測厚儀主要特點(diǎn)
接觸式測量原理
進(jìn)口測厚傳感器
觸摸屏操作
扁平化人機(jī)交互界面顯示
真彩色液晶顯示試驗(yàn)數(shù)據(jù)、結(jié)果
手動、循環(huán)、預(yù)約定時多種測量模式
測試過程全自動完成
內(nèi)嵌*大值、*小值、平均值、標(biāo)準(zhǔn)差數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析功能
本機(jī)內(nèi)置歷史數(shù)據(jù)查詢功能
配置微型打印機(jī)，可自動打印單次、統(tǒng)計(jì)報(bào)告
配置標(biāo)準(zhǔn)通信接口
可支持DSM實(shí)驗(yàn)室數(shù)據(jù)管理系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)統(tǒng)一管理（選購）
薄膜測厚儀技術(shù)指標(biāo)
測量范圍：0～2mm（標(biāo)配）
0～10mm（可選）
分 辨 率：0.1μm
測量速度：1~25次/min（可調(diào)）
測量 頭：薄膜：50mm2，17.5±1kPa（標(biāo)配）
紙張：200mm2，50±1kPa（可選）
薄膜測厚儀執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817
薄膜測厚儀產(chǎn)品配置
主機(jī)、薄膜測量頭、微型打印機(jī)、標(biāo)準(zhǔn)量塊一件
注：產(chǎn)品技術(shù)規(guī)格如有變更，恕不另行通知，SYSTESTER思克保留修改權(quán)與解釋權(quán)！
接觸式測量原理
進(jìn)口測厚傳感器
觸摸屏操作
扁平化人機(jī)交互界面顯示
真彩色液晶顯示試驗(yàn)數(shù)據(jù)、結(jié)果
手動、循環(huán)、預(yù)約定時多種測量模式
測試過程全自動完成
內(nèi)嵌*大值、*小值、平均值、標(biāo)準(zhǔn)差數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析功能
本機(jī)內(nèi)置歷史數(shù)據(jù)查詢功能
配置微型打印機(jī)，可自動打印單次、統(tǒng)計(jì)報(bào)告
配置標(biāo)準(zhǔn)通信接口
可支持DSM實(shí)驗(yàn)室數(shù)據(jù)管理系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)統(tǒng)一管理（選購）
薄膜測厚儀技術(shù)指標(biāo)
測量范圍：0～2mm（標(biāo)配）
0～10mm（可選）
分 辨 率：0.1μm
測量速度：1~25次/min（可調(diào)）
測量 頭：薄膜：50mm2，17.5±1kPa（標(biāo)配）
紙張：200mm2，50±1kPa（可選）
薄膜測厚儀執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817
薄膜測厚儀產(chǎn)品配置
主機(jī)、薄膜測量頭、微型打印機(jī)、標(biāo)準(zhǔn)量塊一件
注：產(chǎn)品技術(shù)規(guī)格如有變更，恕不另行通知，SYSTESTER思克保留修改權(quán)與解釋權(quán)！