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薄膜厚度均勻性測試儀THI
薄膜厚度均勻性測試儀THI
| 品牌：SYSTESTER | 加工定制：是 | 型號：THI | ||||
| 外形尺寸：- mm | 重量：- g | 適用范圍：- | ||||
| 用途：- | 電源電壓：- V |
產品簡介：品牌:SYSTESTER ;加工定制:是 ;型號:THI ;外形尺寸:- mm;重量:- g;適用范圍:- ;用途:- ;電源電壓:- V
濟南思克測試技術有限公司
詳細介紹：
友情提示：店鋪價格僅供參考，不作為實際交易價格！
薄膜厚度均勻性測試儀
薄膜厚度均勻性測試儀應用范圍
適用于塑料薄膜、薄片、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。
薄膜厚度均勻性測試儀主要特點
接觸式測量原理
進口測厚傳感器
觸摸屏操作
扁平化人機交互界面顯示
真彩色液晶顯示試驗數據、結果
手動、循環、預約定時多種測量模式
測試過程全自動完成
內嵌*大值、*小值、平均值、標準差數據統計分析功能
本機內置歷史數據查詢功能
配置微型打印機，可自動打印單次、統計報告
配置標準通信接口
可支持DSM實驗室數據管理系統，實現數據統一管理（選購）
薄膜厚度均勻性測試儀技術指標
測量范圍：0～2mm（標配）
0～10mm（可選）
分 辨 率：0.1μm
測量速度：1~25次/min（可調）
測量 頭：薄膜：50mm2，17.5±1kPa（標配）
紙張：200mm2，50±1kPa（可選）
薄膜厚度均勻性測試儀執行標準
GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817
薄膜厚度均勻性測試儀產品配置
主機、薄膜測量頭、微型打印機、標準量塊一件
注：產品技術規格如有變更，恕不另行通知，SYSTESTER思克保留修改權與解釋權！
接觸式測量原理
進口測厚傳感器
觸摸屏操作
扁平化人機交互界面顯示
真彩色液晶顯示試驗數據、結果
手動、循環、預約定時多種測量模式
測試過程全自動完成
內嵌*大值、*小值、平均值、標準差數據統計分析功能
本機內置歷史數據查詢功能
配置微型打印機，可自動打印單次、統計報告
配置標準通信接口
可支持DSM實驗室數據管理系統，實現數據統一管理（選購）
薄膜厚度均勻性測試儀技術指標
測量范圍：0～2mm（標配）
0～10mm（可選）
分 辨 率：0.1μm
測量速度：1~25次/min（可調）
測量 頭：薄膜：50mm2，17.5±1kPa（標配）
紙張：200mm2，50±1kPa（可選）
薄膜厚度均勻性測試儀執行標準
GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817
薄膜厚度均勻性測試儀產品配置
主機、薄膜測量頭、微型打印機、標準量塊一件
注：產品技術規格如有變更，恕不另行通知，SYSTESTER思克保留修改權與解釋權！